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树脂薄膜的膜厚及成分分析

2017-05-31 10:06:10

        聚乙烯与聚酯等树脂薄膜(以下简称薄膜)的膜厚定量分析,是采用本公司独立开发的,X 射线散  射理论计算结合 FP 法的「背景 FP 法」(以下简称 BG-FP 法)分析,得到较佳效果。此方法是根据树脂  薄膜的康普敦散射的强度与薄膜厚度成比例的原理,在大气氛围中,不仅是薄膜的厚度,而且其中的元  素成分也能定量分析。

 

         

 

       ■样品:

                     厚 6μm、12μm、25μm 的聚乙烯薄膜 ·

                     厚 200μm 的含无机元素聚酯薄膜

 

 

         ■定性分析-膜厚测定:

 

                           BG-FP 法是用测定 X 光管靶(Rh)的特征 X 射线,  产生的康普顿散射来进行树脂薄膜厚度的定量分析。图 1  为 3 种不同膜厚的聚酯薄膜的 RhKα康普顿散射线峰的  重叠显示。薄膜厚度越大,RhKα康普顿散射强度越大。  表 1 为利用 BG-FP 法的膜厚定量分析结果。

 

图1.png

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

计算膜厚必须知道薄膜密度。聚酯的密度为 1.39g/cm3。另外,假定薄膜成分为 C8H10O4。

表一.png


膜厚·成分同时定量分析 含 Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn 的聚酯膜的膜厚及元素含量进行定量分析。 图 2 为定量分析的峰形,以此结果为根据,利用 BG-FP 法计算出定量值,用面积密度 (30mmΦ)的换算值与标准值一并列入表 2。

表一.png

■测定条件   

               仪 器:EDX-720 

                X 射线管:Rh 靶  滤 光 片:不用   电压

               电流:50kV-77μA(Auto) 50kV-446μA(Auto)   气 氛:真空 

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