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X射线荧光分析的特长、原理

2017-05-26 15:00:18

      使用X射线直接照射试样,测定由此产生的2次X射线(X射线荧光)的能量强度。法可无须破坏样品进行样品定性分析和定量分析。与其他分析方法相比,前处理简单,可快速分析,这是X射线荧光分析的一大特长。

       虽然在波长(能量)分辨率、轻元素的灵敏度、精度上不如波长色散型,但在价格、操作性、前处理的简单便性上具有优势。因此,非常适于进货检查、生产现场的筛选分析和次品解析。

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